多様化する材料開発、ナノ構造解析の実際
～最先端Synergy ED, ASTAR, SEM-EBSD, XRDのご紹介～ (オンライン)
TSLソリューションズでは、日本電子(株)、(株)リガク、オックスフォード・インストゥルメンツ(株)と協賛で、「多様化する材料開発、ナノ構造解析の実際 ～最先端Synergy ED, ASTAR, SEM-EBSD, XRDのご紹介～」というタイトルで、で最新の分析技術を用いたソリューションを紹介するセミナーを提供します。ナノ構造解析に力を発揮するASTARにご興味のある方には必見のウェビナーです。
WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
協賛：
株式会社TSLソリューションズ、日本電子株式会社、株式会社リガク、オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
お申込みは、下記アドレスの 日本電子(株) ウェビナーページにてお願いいたします。
https://www.jeol.co.jp/online-expo/2021/expo18/expo18.html
講演日
2022年 3月 17日(木) 13:30~15:00
講演内容
開会挨拶: 13:30～13:35
高橋 清人(日本電子株式会社)
講演1: 13:35～13:55
電池材料・電子部品材料のX線回折による最新の評価方法
講師: 長尾 圭吾 (株式会社リガク)
X線回折法やX小角散乱法は、電池材料・電子部品材料の研究開発や品質管理に広く使用されています。リガクでは新しい光学素子や解析法を開発し、今まで解析困難であった材料に対してもこれらの手法を適用できるようにしました。本セミナーでは、主に多目的X線回折装置であるSmartLabを用いたBaTiO3粉末の格子定数・結晶子サイズ・粒径などの解析の他、リチウムイオン電池のオペランド測定やナノ粒子のPDF解析についても紹介します。
講演２: 13:55～14:15
有機・無機機能性材料の電子回折システムSynergy-EDによる三次元分子構造の決定
講師: 山野 昭人 (株式会社リガク)
電子線と物質の相互作用はＸ線の数万倍強いため、電子回折ではナノ結晶での三次元分子構造の決定が可能です。この結果、Ｘ線回折と電子回折を合わせると、結晶の大きさという点での制約が事実上なくなるため、単結晶構造解析の適用範囲は大幅に拡大することができます。本発表では、有機ELや半導体材料である機能性有機材料や、二次電池の正極材などの無機材料について、極微小結晶により結晶構造を決定した例を紹介いたします。
講演３: 14:15～14:35
SEM-EBSD法の基礎と活用法
講師: 森田 博文 (オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社)
SEM-EBSD法として知られているEBSD法は、SEM付属の高感度CMOS検出器を用いて、電子線回折の菊池パターンからサブミクロンの領域の材料の結晶方位を指数付けする分析方法である。電子線を走査できるSEMの特長を活かして結晶方位のマップが収集できるため、材料の結晶学的特性の分析や方位差を用いたひずみの推定など多くの活用法がある。
講演４: 14:35～14:55
TEMを用いたナノ材料の結晶方位解析の紹介
講師: 鈴木 清一 (株式会社TSLソリューションズ)
ASTAR法は、TEM回折パターンを用いてEBSD法と同様の結晶方位マップの作成を可能としました。TEM回折パターンは1-2 nmφに絞った照射電子線でも十分に得られることから、5 nm程度の結晶粒の認識も可能となります。また相分離性もおいても優れた特性を示しています。これによりSEM/EBSD法では困難であった半導体素子をはじめとするナノ材料の組織解析において大きな成果が出始めています。本セミナーでは、ASTAR法の原理とその応用事例を紹介します。
閉会挨拶: 14:55～15:00
宮島 孝行 (株式会社リガク)
お問い合わせ
ASTARに関するお問い合わせ
(株)TSLソリューションズ Info[at]tsljapan.com
その他講演内容等のお問い合わせ
日本電子株式会社 デマンド推進本部ウェビナー事務局 Sales[at]jeol.co.jp
* メールにてお問い合わせの際は[at] を@ に変更してください。
セミナー資料 映像録画 / 録音についてのお願い
- セミナー資料について
恐れ入りますが、資料の再配布・複製をご遠慮いただいております。 - セミナー映像の録画、録音について
恐れ入りますが、セミナー映像の録画・録音・撮影などご遠慮いただいております。
皆様のご理解とご協力の程、何卒よろしくお願い申し上げます。