純銅を室温で60%圧延した試料の断面を観察した場合の結晶粒界マップ
ご意見、ご要望、ご質問などございましたら、下記までご連絡をお願いいたします。
〒229-1131 神奈川県相模原市西橋本5-4-30 SIC2-401
TEL:042-774-8841 FAX:042-770-9314
E-mail:info@tsljapan.com
| ●データのグラフ化● 株式会社 ＴＳＬソリューションズ | |||
| 下図は、結晶粒サイズをグラフ化し（Ｘ軸：結晶粒サイズ/対数表示、Ｙ軸：比率）たものです。このようにＯＩＭでは、測定結果を様々なかたちでグラフ化し、データを定量的に扱うことが可能です。 | |||
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純銅を室温で60%圧延した試料の断面を観察した場合の結晶粒界マップ
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